DGIST 이현준 책임연구원, 과기정통부 장관 표창

      [경북도민방송=손중모기자] DGIST반도체 연구진이 국내 반도체 분석 기술 자립을 이끈 공로를 인정받아 정부 포상을 수상했다.    반도체 초미세 구조에서 발생하는 열을 정밀하게 측정하는 첨단 장비를 국산화하며 기술사업화 성공 사례를 만들었다는 평가다.DGIST는 반도체AX연구단 소속 이현준 책임연구원(나노기술연구부·차세대센서반도체연구소 겸임)이 국내 최대 ICT 전시회인 월드 IT 쇼 2026에서 과학기술정보통신부 장관 표창을 수상했다고 27일 밝혔다.이 연구원은 반도체 미세 구조에서 발생하는 발열을 실시간으로 정밀 분석할 수 있는 첨단 열 측정 기술을 나노스코프시스템즈㈜와 공동 개발하고, 이를 실제 산업용 장비로 구현해 성공적으로 사업화한 공로를 인정받았다.최근 반도체 산업에서는 고속 연산과 초고집적화가 진행되면서 발열 제어가 핵심 과제로 떠오르고 있다.    그러나 기존 적외선(IR) 카메라는 마이크로미터(㎛) 이하 미세 영역의 열 변화를 정밀하게 측정하는 데 한계가 있었다.연구팀은 이를 해결하기 위해 빛의 반사율 변화를 감지해 온도를 측정하는 열반사(Thermoreflectance) 기술을 도입했다.    DGIST는 한국기초과학지원연구원의 초기 기술이전 성과를 토대로 약 10년간 기업과 공동 연구를 이어오며 기술 완성도를 끌어올렸다.그 결과, 기존 장비의 한계를 뛰어넘어 고해상도 열 영상을 실시간으로 관측할 수 있는 분석 장비 국산화에 성공했다.   이는 미국에 이어 세계 두 번째, 국내 최초 상용화 사례로 평가된다.이번 성과는 해외 장비 의존도가 높았던 반도체 분석 시장에서 국산 기술 경쟁력을 확보했다는 점에서 의미가 크다.    특히 반도체 불량 분석, 신뢰성 평가, 차세대 소자 개발 등 산업 전반에 활용 가능성이 높다는 전망이다.이현준 책임연구원은 “기존에는 확인하기 어려웠던 반도체 내부 미세 발열 위치와 열 전파 과정을 직접 시각적으로 관측할 수 있는 기술을 확보했다”며 “현재 반도체 연구는 물론 미래 첨단소자 개발에도 폭넓게 활용될 새로운 분석 도구가 될 것”이라고 말했다.DGIST 연구팀은 현재 해당 열 관측 기술에 인공지능(AI)을 접목하는 후속 연구도 진행 중이다.    AI 기반 데이터 분석으로 미세 열 신호를 보다 정밀하게 시각화해 향후 반도체 고장 예측, 공정 최적화, 신뢰성 분석 등으로 활용 범위를 확대할 계획이다.